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產品列表PRODUCTS LIST
電子產品高溫低溫老化測試方法步入式高低溫試驗箱：
步入式高低溫試驗箱主要用過測試電子產品、零部件在在高溫、低溫綜合環(huán)境下各項性能指標。而對于汽車來說，不管是IC、儀表板、馬達、藍牙、車燈、外殼、還是整車等都需要用到高低溫試驗確保其性能可以在汽車行駛的過程中正常穩(wěn)定運行。步入式高低溫試驗箱是為了滿足用戶對大容積試驗空間的要求而設計的，它從結構上可分為整體焊接式和拼裝式。
準備測試設備：需要使用能夠控制溫度的高低溫測試設備，如高低溫循環(huán)箱、烤箱等。
制定測試計劃：根據產品的規(guī)格書和測試標準，制定詳細的測試計劃，包括測試條件、測試持續(xù)時間、測試結果等。
樣品準備：選擇一定數(shù)量的樣品進行測試，并按照產品規(guī)格書要求的方式進行安裝和連接。
預熱：在進行測試前，需要將測試設備預熱至測試溫度，以確保測試環(huán)境穩(wěn)定。
開始測試：將樣品放入測試設備中進行測試，測試時間和溫度要符合測試計劃中的要求。
監(jiān)測和記錄：測試過程中需要及時監(jiān)測樣品的工作狀態(tài)，如電流、電壓、功耗等，并記錄測試結果。
測試后處理：測試結束后，需要對測試數(shù)據進行分析和處理，如制作測試報告、評估產品的性能和可靠性等。
高低溫測試檢測標準：
電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007
電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007
試驗條件：將電子產品放入高低溫試驗箱通電老化
高溫參數(shù)設置：溫度45℃、濕度80% RH、時間24 hrs
低溫參數(shù)設置：低溫0℃、時間24 hrs
試驗方法：
試驗一：高溫運行
1、樣品應在不包裝、不同點和正常工作位置的狀態(tài)下放入具有室溫的試驗箱內，
2、箱內溫度逐漸升溫至所設置的溫度，當電子產品達到溫度穩(wěn)定后，接通電源持續(xù)工作16小時，
3、樣品斷開電源，箱內溫度降低至正常試驗大氣條件范圍內的常溫常壓下，
4、恢復兩小時；
5、對試驗產品進行全方面的檢測。
試驗二：低溫運行
1、電子產品應在不包裝、不同點和正常工作位置的狀態(tài)下放入具有室溫的試驗箱內;，
2、高低溫試驗箱內溫度逐漸降低至所設置的溫度，當樣品達到溫變穩(wěn)定后擱置2小時，然后接通電源持續(xù)工作1小時；
3、樣品斷開電源，試驗箱內溫度降低至正常試驗大氣條件范圍內的常溫常壓下，
4、箱內溫度上升至正常試驗大氣條件范圍內的常溫常壓下，
5、恢復兩小時；
6、對試驗產品進行全方面的檢測；判定標準：
